Charles E. Lyman,
Patrick Echlin,
Joseph Goldstein,
Linda Sawyer,
Dale E. Newbury,
David C. Joy,
J.R. Michael,
Eric Lifshin
e.a.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Third Edition
Gebonden Engels 2007 3e druk 9780306472923Levertijd ongeveer 9 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed.
Specificaties
ISBN13:9780306472923
Taal:Engels
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:690
Uitgever:Springer US
Druk:3
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan