Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA) Voldman
Meer over Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA) Voldman
Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA) Voldman
ESD
Failure Mechanisms and Models
Gebonden EN 2009 9780470511374Levertijd ongeveer 16 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
Provides a comprehensive analysis of ESD failure mechanisms over a wide range of semiconductor materials, devices, circuits and applications. Sets out methods for eliminating failure mechanisms through workable circuit solutions, including practical examples of failure defects.
Specificaties
ISBN13:9780470511374
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:408
Uitgever:John Wiley & Sons Inc
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan