Ludwig Reimer
Scanning Electron Microscopy
Physics of Image Formation and Microanalysis
Gebonden Engels 1998 2e druk 9783540639763Levertijd ongeveer 9 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Specificaties
ISBN13:9783540639763
Taal:Engels
Bindwijze:gebonden
Aantal pagina's:529
Uitgever:Springer Berlin Heidelberg
Druk:2
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Inhoudsopgave
Electron Optics of a Scanning Electron Microscope.- Electron Scattering and Diffusion.- Emission of Backscattered and Secondary Electrons.- Electron Detectors and Spectrometers.- Image Contrast and Signal Processing.- Electron-Beam-Induced Current and Cathodoluminescence.- Special Techniques in SEM.- Crystal Structure Analysis by Diffraction.- Elemental Analysis and Imaging with X-Rays.
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan