Laung-Terng Wang,
Cheng-Wen Wu,
Xiaoqing Wen
VLSI Test Principles and Architectures
Design for Testability
Gebonden Engels 2006 9780123705976Levertijd ongeveer 9 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.
Specificaties
ISBN13:9780123705976
Taal:Engels
Bindwijze:Gebonden
Uitgever:Elsevier Science
Hoofdrubriek:Diversen, Computer en informatica
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Inhoudsopgave
Chapter 1 – Introduction<br>Chapter 2 – Design for Testability<br>Chapter 3 – Logic and Fault Simulation <br>Chapter 4 – Test Generation <br>Chapter 5 – Logic Built-In Self-Test<br>Chapter 6 – Test Compression<br>Chapter 7 – Logic Diagnosis<br>Chapter 8 – Memory Testing and Built-In Self-Test<br>Chapter 9 – Memory Diagnosis and Built-In Self-Repair<br>Chapter 10 – Boundary Scan and Core-Based Testing<br>Chapter 11 – Analog and Mixed-Signal Testing<br>Chapter 12 – Test Technology Trends in the Nanometer Age
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan