David C. Joy,
David C. Joy
Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis
Gebonden Engels 1995 9780195088748Levertijd ongeveer 11 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
This book is a practical guide to the use of Monte Carlo simulation techniques for the study of electron solid interactions in the electron microscope. Programs, optimized for use on personal computers, are developed to deal with typical applications including secondary, and back- scattered, electron imaging. EBIC imaging of semiconductors and X-ray microanalysis.
Specificaties
ISBN13:9780195088748
Taal:Engels
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:224
Uitgever:OUP USA
Hoofdrubriek:Wetenschap en techniek, Computer en informatica
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan