M. K. Miller,
A. Cerezo,
M. G. Hetherington,
G. D. W. Smith FRS
e.a.
Atom Probe Field Ion Microscopy
Gebonden Engels 1996 9780198513872Levertijd ± 11 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
A definitive account of the theory, practice, and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. New applications for this technique are rapidly emerging and graduate level material and surface scientists will enjoy this account of the state-of-the-art.
Specificaties
ISBN13:9780198513872
Taal:Engels
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:520
Uitgever:OUP OXFORD
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan