John Banhart
Advanced Tomographic Methods in Materials Research and Engineering
Gebonden Engels 2008 9780199213245Levertijd ± 11 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
Tomography provides three-dimensional images of materials or engineering components and an unprecedented insight into their internal structure. This book, written for applied physicists, materials scientists and engineers, discusses recent developments in the field, such as the extension of tomographic methods to materials research and engineering.
Specificaties
ISBN13:9780199213245
Taal:Engels
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:490
Uitgever:OUP OXFORD
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan