Martin Hÿtch
Applied Charged Particle Optics: Part I
Gebonden Engels 2026 9780443471100Levertijd ± 9 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 238 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy.
Specificaties
ISBN13:9780443471100
Taal:Engels
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:284
Uitgever:Elsevier Science
Hoofdrubriek:Wetenschap en techniek, Computer en informatica
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Inhoudsopgave
- Preface
- Numerical Methods for Computing Electrostatic and Magnetic Fields
- Methods of Computing Optical Properties and Combating Aberrations for Low-Intensity Beams
- Emittance and Brightness: Definitions and Measurements*
- High-Resolution Scanning Transmission Low-Energy Ion Microscopes and Microanalyzers
- High-Energy Ion Microprobes
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan