Greg Haugstad
Atomic Force Microscopy
Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Gebonden EN 2012 9780470638828Levertijd ongeveer 16 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM).
Specificaties
ISBN13:9780470638828
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:496
Uitgever:John Wiley & Sons Inc
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan