Harland G. Tompkins,
Harland G. Tompkins,
William A. McGahan,
William A. McGahan
e.a.
Ellipsometry
A User's Guide
Gebonden EN 1999 9780471181729Levertijd ongeveer 16 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry. A guide for practitioners and researchers in a variety of disciplines, it addresses a broad range of applications in physics, chemistry, electrical engineering, and materials science.
Specificaties
ISBN13:9780471181729
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:248
Uitgever:John Wiley & Sons Inc
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan