Saibal ) Basu,
Saibal Basu,
Surendra ) Singh,
Surendra Singh
e.a.
Neutron and X-ray Reflectometry
Emerging phenomena at heterostructure interfaces
Gebonden EN 2022 9780750346931Levertijd ongeveer 16 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
This book introduces the techniques of neutronand x-ray reflectometry and presents the studies carried out to date, using thetechniques to understand emerging phenomena at the interfaces of thin films.
Specificaties
ISBN13:9780750346931
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:182
Uitgever:Institute of Physics Publishing
Serie:IOP ebooks
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan