Shengkai Wang,
Xiaolei Wang
MOS Interface Physics, Process and Characterization
Paperback EN 2024 9781032106281Levertijd ongeveer 16 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.
Specificaties
ISBN13:9781032106281
Taal:EN
Bindwijze:Paperback
Aantal pagina's:162
Uitgever:Taylor & Francis Ltd
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan