Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy

Gebonden EN 2018 9781118456095
€ 151,13
Levertijd ongeveer 16 werkdagen
Gratis verzonden

Specificaties

ISBN13:9781118456095
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:304
Uitgever:John Wiley & Sons Inc

Lezersrecensies

Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!

Managementboek Top 100

€ 151,13
Levertijd ongeveer 16 werkdagen
Gratis verzonden

Rubrieken

    Personen

      Trefwoorden

        Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy