J.K. Beddow,
John Keith Beddow
Particle Characterization in Technology
Volume II: Morphological Analysis
Gebonden EN 2017 9781315896267Levertijd ongeveer 16 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
The first section of volume II deals with both theory and methods of morphological analysis, it then discusses data analysis, and finally, the applications.
Specificaties
ISBN13:9781315896267
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:288
Uitgever:Taylor & Francis Ltd
Thema:
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan