J.K. Beddow,
John Keith Beddow
Particle Characterization in Technology
Volume II: Morphological Analysis
Gebonden Engels 2017 1e druk 9781315896267Levertijd ongeveer 11 werkdagen
Gratis verzonden
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan