C.S. Barrett,
John V. Gilfrich,
Ting C. Huang,
Ron Jenkins,
G.J. McCarthy,
Paul K. Predecki,
R. Ryon,
Deane K. Smith
e.a.
Advances in X-Ray Analysis
Volume 35B
Paperback Engels 2012 9781461365327Levertijd ongeveer 9 werkdagen
Gratis verzonden
Specificaties
ISBN13:9781461365327
Taal:Engels
Bindwijze:paperback
Aantal pagina's:641
Uitgever:Springer US
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Inhoudsopgave
Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan