James R. Lloyd,
Frederick G. Yost,
Paul S. Ho
Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225
Gebonden Engels 1991 9781558991194
Verwachte levertijd ongeveer 9 werkdagen
Samenvatting
With the increased complexity of modern integrated circuits, it is important that reliability problems be attacked properly with the appropriate tools. This volume recognizes that almost all reliability problems are materials problems, and helps to put 'reliabilty physics' on a firm scientific foundation. Topics include: electromigration; stress effects on reliability; stress and packaging; metallization; device, oxide and dielectric reliability; new investigative techniques; corrosion.
Specificaties
ISBN13:9781558991194
Taal:Engels
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:382
Uitgever:Cambridge University Press
Serie:MRS Proceedings
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan