Bert Voigtländer
Scanning Probe Microscopy
Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
Gebonden Engels 2015 2015e druk 9783662452394Levertijd ongeveer 9 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.
Specificaties
ISBN13:9783662452394
Taal:Engels
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:406
Uitgever:Springer Berlin Heidelberg
Druk:2015
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan