Cherepin,
V. T. Cherepin
Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces
Gebonden EN 1987 9789067640787Niet leverbaar.
Samenvatting
This volume is devoted to the physics, instrumentation and analytical methods of secondary ion mass spectroscopy (SIMS) in relation to solid surfaces
Specificaties
ISBN13:9789067640787
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:138
Uitgever:Brill
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
€ 224,91
Dit product is niet leverbaar
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan